WEKO3
アイテム
動的なしきいち電圧制御によるNAND型フラッシュメモリの高信頼化の研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/11442
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/11442e73c721f-427d-467f-8b43-304d42705c7c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
本文を見る (45.2 kB)
Restricted Access
|
|
| Item type | 学位論文(学内限定公開)(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2016-01-06 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 動的なしきいち電圧制御によるNAND型フラッシュメモリの高信頼化の研究 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Research on Dynamic Threshold Voltage Control for Highly Reliable NAND Flash Memory | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| 資源タイプ | thesis | |||||
| 著者 |
土井, 雅史
× 土井, 雅史 |
|||||
| 著者別名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 37093 | |||||
| 姓名 | DOI, Masafumi | |||||
| 言語 | en | |||||
| 寄与者 | ||||||
| 寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||
| 寄与者識別子 | 30603 | |||||
| 姓名 | 竹内, 健 | |||||
| 姓名 | タケウチ, ケン | |||||
| 言語 | ja-Kana | |||||
| 寄与者別名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 30603 | |||||
| 姓名 | TAKEUCHI, Ken | |||||
| 言語 | en | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 2014年度 | |||||
| 公開者 | ||||||
| 出版者 | 中央大学理工学部事務室 | |||||
| 権利 | ||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、公開者へお問い合わせください。 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
