WEKO3
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ストレージ・クラス・メモリ及びNAND型フラッシュメモリを用いた半導体ストレージにおけるデータ保持時間を考慮した高信頼化手法に関する研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/12275
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/12275a36675e4-c2f1-4715-b75f-c5700c9a227c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文を見る (1.6 MB)
Restricted Access
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| Item type | 学位論文(学内限定公開)_02(1) | |||||
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| 公開日 | 2020-07-03 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | ストレージ・クラス・メモリ及びNAND型フラッシュメモリを用いた半導体ストレージにおけるデータ保持時間を考慮した高信頼化手法に関する研究 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Research on Reliability Enhancement Method Considering Data-retention Time for Storage Class Memory/NAND Flash Memory Hybrid Storage | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| 資源タイプ | thesis | |||||
| 著者 |
鈴木, 敦也
× 鈴木, 敦也 |
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| 著者別名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 48823 | |||||
| 姓名 | SUZUKI, Atsuya | |||||
| 言語 | en | |||||
| 公開者 | ||||||
| 出版者 | 中央大学理工学部事務室 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 2018年度 | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | 中央大学 | |||||
| 権利 | ||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
