WEKO3
アイテム
3次元NAND型フラッシュメモリにおける積層方向への電荷移動抑制及び自動データ修復パルスによる高信頼化技術に関する研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/14469
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/144696bb59a75-f585-4092-9973-24f0c165cb85
| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2022-06-30 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 3次元NAND型フラッシュメモリにおける積層方向への電荷移動抑制及び自動データ修復パルスによる高信頼化技術に関する研究 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Research on Reliability Enhancement Techniques by Lateral Charge Migration Suppression and Automatic Data Repair Overwrite Pulse for 3D NAND Flash Memories | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||
| 著者 |
溝口, 恭史
× 溝口, 恭史
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| 著者別名(英) | ||||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 識別子 | 52706 | |||||||||
| 姓名 | MIZOGUCHI, Kyoji | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 49, 発行日 2019-08-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | 資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用 | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | 引用を超える使用を希望される場合には | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | 公開者へお問い合わせください。 | |||||||||
| 寄与者 | ||||||||||
| 寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 寄与者識別子 | 52707 | |||||||||
| 姓名 | 竹内, 健 | |||||||||
