WEKO3
アイテム
TLC NAND型フラッシュメモリで構成されるソリッド・ステート・ドライブ向け低密度パリティ検査符号を用いた高速・高信頼な誤り訂正システムの研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/7729
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/7729617a31c9-5b75-4156-acca-77e6ac1ac164
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文を見る (703.2 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2016-09-16 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | TLC NAND型フラッシュメモリで構成されるソリッド・ステート・ドライブ向け低密度パリティ検査符号を用いた高速・高信頼な誤り訂正システムの研究 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Research on High-Speed Reliable Error-Correction Systems with Low-Density Parity-Check Code for TLC NAND Flash-based Solid-State Drives | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| 著者 |
德冨, 司
× 德冨, 司
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| 著者別名(英) | ||||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 識別子 | 47899 | |||||||||
| 姓名 | TOKUTOMI, Tsukasa | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 46, 発行日 2016-08-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||||||
| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 1345-2428 | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||||||
| フォーマット | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 寄与者 | ||||||||||
| 寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 寄与者識別子 | 30603 | |||||||||
| 姓名 | 竹内, 健 | |||||||||
| 姓名 | タケウチ, ケン | |||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||
| 寄与者別名(英) | ||||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 識別子 | 30603 | |||||||||
| 姓名 | TAKEUCHI, Ken | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
