WEKO3
アイテム
リアルワークロードを用いたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価手法と画像認識向け磁気抵抗変化型メモリの高速・高信頼化技術に関する研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/14758
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/1475850285f95-7e6b-4d74-8b2a-98e2282879ca
Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2022-06-30 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | リアルワークロードを用いたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価手法と画像認識向け磁気抵抗変化型メモリの高速・高信頼化技術に関する研究 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Research on Reliability Evaluation Method of NAND Flash Memories based on Real Workloads and High-Speed Reliable Techniques of Magnetoresistive Random Access Memory for Image Recognition | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
山賀, 祐典
× 山賀, 祐典 |
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著者別名(英) | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 53370 | |||||
姓名 | YAMAGA, Yusuke | |||||
言語 | en | |||||
書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 48, 発行日 2018-08-01 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||
権利 | ||||||
権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、公開者へお問い合わせください。 | |||||
寄与者 | ||||||
寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||
寄与者識別子 | 53371 | |||||
姓名 | 竹内, 健 |