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  1. 大学院研究年報 理工学研究科編
  2. 第48号(2018)電気電子情報通信工学専攻

リアルワークロードを用いたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価手法と画像認識向け磁気抵抗変化型メモリの高速・高信頼化技術に関する研究

https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/14758
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/14758
50285f95-7e6b-4d74-8b2a-98e2282879ca
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2022-06-30
タイトル
タイトル リアルワークロードを用いたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価手法と画像認識向け磁気抵抗変化型メモリの高速・高信頼化技術に関する研究
タイトル
タイトル Research on Reliability Evaluation Method of NAND Flash Memories based on Real Workloads and High-Speed Reliable Techniques of Magnetoresistive Random Access Memory for Image Recognition
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 山賀, 祐典

× 山賀, 祐典

山賀, 祐典

ja-Kana ヤマガ, ユウスケ

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著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 53370
姓名 YAMAGA, Yusuke
言語 en
書誌情報 大学院研究年報 理工学研究科編

巻 48, 発行日 2018-08-01
出版者
出版者 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室
権利
権利情報 この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、公開者へお問い合わせください。
寄与者
寄与者識別子Scheme WEKO
寄与者識別子 53371
姓名 竹内, 健
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Ver.1 2023-05-15 15:07:36.242079
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