WEKO3
アイテム
差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014e041a986-156b-4094-81de-4a39b5094f02
Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
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公開日 | 2022-07-06 | |||||||||
タイトル | ||||||||||
タイトル | 差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上 | |||||||||
タイトル | ||||||||||
タイトル | Embedding Capacity Improvement in Reversible Watermarking Using DCT-domain Difference Expansion / Improvement of Reliability and Read Speed for 3D QLC NAND Flash Memory | |||||||||
言語 | en | |||||||||
言語 | ||||||||||
言語 | jpn | |||||||||
資源タイプ | ||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
アクセス権 | ||||||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||||||
著者 |
前田, 京佑
× 前田, 京佑
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著者別名(英) | ||||||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||||||
識別子 | 53921 | |||||||||
姓名 | MAEDA, Kyosuke | |||||||||
言語 | en | |||||||||
書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 51, 発行日 2021-09-01 |
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出版者 | ||||||||||
出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||||||
権利 | ||||||||||
権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||||||
寄与者 | ||||||||||
寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||||||
寄与者識別子 | 53922 | |||||||||
姓名 | 久保田, 彰 |