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  1. 大学院研究年報 理工学研究科編
  2. 第51号(2021) 電気電子情報通信工学専攻

差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上

https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014
e041a986-156b-4094-81de-4a39b5094f02
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2022-07-06
タイトル
タイトル 差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上
タイトル
タイトル Embedding Capacity Improvement in Reversible Watermarking Using DCT-domain Difference Expansion / Improvement of Reliability and Read Speed for 3D QLC NAND Flash Memory
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 前田, 京佑

× 前田, 京佑

前田, 京佑

ja-Kana マエダ, キョウスケ

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著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 53921
姓名 MAEDA, Kyosuke
言語 en
書誌情報 大学院研究年報 理工学研究科編

巻 51, 発行日 2021-09-01
出版者
出版者 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室
権利
権利情報 この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。
寄与者
寄与者識別子Scheme WEKO
寄与者識別子 53922
姓名 久保田, 彰
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Ver.1 2023-05-15 15:03:04.992144
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