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アイテム
差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15014e041a986-156b-4094-81de-4a39b5094f02
| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2022-07-06 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 差分拡大法を用いた可逆電子透かしの埋め込み容量の改善および3次元QLC NAND型フラッシュメモリの信頼性と読み出し速度の向上 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Embedding Capacity Improvement in Reversible Watermarking Using DCT-domain Difference Expansion / Improvement of Reliability and Read Speed for 3D QLC NAND Flash Memory | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
前田, 京佑
× 前田, 京佑 |
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| 著者別名(英) | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 53921 | |||||
| 姓名 | MAEDA, Kyosuke | |||||
| 言語 | en | |||||
| 書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 51, 発行日 2021-09-01 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||
| 権利 | ||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||
| 寄与者 | ||||||
| 寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||
| 寄与者識別子 | 53922 | |||||
| 姓名 | 久保田, 彰 | |||||
