WEKO3
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抵抗変化型メモリの書き換え耐久性向上のための不良メモリセル予測手法に関する研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15811
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/15811acce5b92-aefc-4822-a15a-2c39dcac4c51
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文を見る (6.9 MB)
Restricted Access
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Item type | 学位論文(学内限定公開)_02(1) | |||||
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公開日 | 2022-07-20 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 抵抗変化型メモリの書き換え耐久性向上のための不良メモリセル予測手法に関する研究 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Research on Error Prediction Scheme to Improve Endurance of Resistive Random Access Memory | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
著者 |
猪瀬, 貴史
× 猪瀬, 貴史 |
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著者別名(英) | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 55807 | |||||
姓名 | INOSE, Takashi | |||||
言語 | en | |||||
公開者 | ||||||
出版者 | 中央大学理工学部事務室 | |||||
寄与者 | ||||||
寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||
寄与者識別子 | 55808 | |||||
姓名 | 竹内, 健 | |||||
姓名 | タケウチ, ケン | |||||
言語 | ja-Kana | |||||
寄与者別名(英) | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 55809 | |||||
姓名 | Ken, Takeuchi | |||||
言語 | en | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 2017年度 | |||||
権利 | ||||||
権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||
フォーマット | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | application/pdf | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |