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  1. 理工学研究所論文集
  2. 第25号(2019)

走査型レーザー照明を用いた位相差および暗視野照明顕微鏡の開発

https://doi.org/10.24789/00012390
https://doi.org/10.24789/00012390
90dd845c-1fa2-4d98-8b43-845d7d0a35dc
名前 / ファイル ライセンス アクション
1343-0068_25_93-103.pdf 本文を見る (2.8 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-07-04
タイトル
タイトル 走査型レーザー照明を用いた位相差および暗視野照明顕微鏡の開発
タイトル
タイトル Development of phase-contrast/dark-field microscopy with scanning laser illumination
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.24789/00012390
ID登録タイプ JaLC
著者 佐藤, 毅

× 佐藤, 毅

佐藤, 毅

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白根, 智崇

× 白根, 智崇

白根, 智崇

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和田, 祐子

× 和田, 祐子

和田, 祐子

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今井, 洋

× 今井, 洋

今井, 洋

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上村, 慎治

× 上村, 慎治

上村, 慎治

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著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 49095
姓名 SATO, Tsuyoshi
言語 en
著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 49096
姓名 SHIRANE, Tomotaka
言語 en
著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 49097
姓名 WADA, Yuuko
言語 en
著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 49098
姓名 IMAI, Hiroshi
言語 en
著者別名(英)
識別子Scheme WEKO
識別子 23407
姓名 KAMIMURA, Shinji
言語 en
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 For the specimen illumination in conventional bright-field light microscopes, incoherent light sources such as halogen lamps or mercury tubes are used, but there is a certain limitation of image brightness as we cannot focus light source images in small spots. On the other hand, laser light sources with single wavelengths and parallel light path would be useful as we can focus for bright illumination. However, due to high speckle noise coming from complicated reflections on the surfaces of optical lenses and beam stops equipped inside microscope system, laser is almost useless for light sources. In this study, we designed a novel optics to scan laser light on the front focal plane of condenser lens, i.e., aperture plane, that is, with light sources placed optically at an optically infinite distance from specimens. Diatom standard specimens were used for the observation in both the phase contrast image and the dark field microscopy, and we could reduce speckle noise under applicable magnitude. Although we could not solve the problem of biased brightness of illumination depending on specimen angles, the new optics presented here is expected to be useful for the observation of fine structures with high image brightness.
書誌情報 中央大学理工学研究所論文集

巻 25, p. 93-103, 発行日 2020-03-31
出版者
出版者 中央大学理工学研究所
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1343-0068
権利
権利情報 この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-05-15 15:46:02.399642
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