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相変化メモリの高信頼・低電力書き込み方式の研究
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/6911
https://chuo-u.repo.nii.ac.jp/records/69114006765d-de9c-4871-8c15-51555b78a8fa
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文を見る (922.6 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2015-11-12 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 相変化メモリの高信頼・低電力書き込み方式の研究 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Study on Highly Reliable and Low Power Program Methods of Phase Change Memories | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| 著者 |
江上, 徹
× 江上, 徹
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| 著者別名(英) | ||||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 識別子 | 47169 | |||||||||
| 姓名 | EGAMI, Toru | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 書誌情報 |
大学院研究年報 理工学研究科編 巻 45, 発行日 2015-07-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 中央大学大学院研究年報編集委員会、中央大学理工学部事務室 | |||||||||
| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 1345-2428 | |||||||||
| 権利 | ||||||||||
| 権利情報 | この資料の著作権は、資料の著作者または学校法人中央大学に帰属します。著作権法が定める私的利用・引用を超える使用を希望される場合には、掲載誌発行部局へお問い合わせください。 | |||||||||
| フォーマット | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 寄与者 | ||||||||||
| 寄与者識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 寄与者識別子 | 30603 | |||||||||
| 姓名 | 竹内, 健 | |||||||||
| 姓名 | タケウチ, ケン | |||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||
| 寄与者別名(英) | ||||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||||
| 識別子 | 30603 | |||||||||
| 姓名 | TAKEUCHI, Ken | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
